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光學(xué)熱膨脹儀在測量上采用了哪些原理?

更新時間:2020-06-30    點(diǎn)擊次數(shù):6826
   光學(xué)熱膨脹儀是指在一定的溫度程序、負(fù)載力接近于零的情況下,測量樣品的尺寸變化隨溫度或時間的函數(shù)關(guān)系??蓽y量固體、熔融金屬、粉末、涂料等各類樣品,廣泛應(yīng)用于無機(jī)陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建筑材料、涂層材料、耐火材料、復(fù)合材料等領(lǐng)域。
 
  測量原理:
  光學(xué)熱膨脹儀采用了陰影光的方法。在該方法中,通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平面光,通過一個擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡,產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理,并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度,進(jìn)而測定樣品的尺寸。

  測量的優(yōu)勢:
  光學(xué)熱膨脹儀測量本質(zhì)上是一個的測量,不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化,光源和檢測器與這些變化相隔離。因此,測量是的,不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準(zhǔn)。
 
  特點(diǎn):
  1、一次分析中可同時處理2個樣品模子;
  2、自動操作,采用圖象技術(shù)分析灰熔點(diǎn);
  3、技術(shù),可監(jiān)測、電腦計(jì)算、儲存數(shù)據(jù)和曲線;
  4、可在加氧或減氧壓下進(jìn)行,樣品溫度范圍為200~1550℃;
  5、被保存的圖象(間隔5°C)可制成熔融動畫。曲線、熔點(diǎn)、溫度爬坡均被打印和保存;
  6、可自動辨別形狀(柱狀、金字塔形增漲、金字塔坍塌、絲狀),計(jì)算機(jī)分析相對于初始狀態(tài)的棱角、頂部變化;
  7、一旦樣品放入熔爐里,操作者不須動手,直到分析結(jié)束。結(jié)果自動保存在數(shù)據(jù)庫并被打印;您可獲得打印報告、圖片,熔融曲線、數(shù)字熔融過程、分辨率為4℃;
  8、該儀器可材料樣品的熱膨脹、熔點(diǎn)測試、灰熔點(diǎn)、熔融特征,儲存樣品的變化圖象(在您感興趣的溫度范圍內(nèi));熔融過程的圖象(初始點(diǎn)、收縮點(diǎn)、球狀、半球狀、液化)均被儲存,并被自動打印,可提供寬度、高度、圓度、溫度爬升等信息;
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